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FA-150W红外电路失效分析检测仪利用锁相探测原理，为电路及IC失效分析提供强有力的非接触式解决方案。能够对温度分布、能量耗散、微漏电和焊接问题进行有效的分析， 相比于传统的热成像分析，提供两个数量级以上的探测灵敏度提升。

高帧频制冷红外热成像测温仪具有灵敏度高、响应速度快、高帧频的特点，可获取快速运动目标的红外热分布情况；产品具有丰富的数据接口、专业的数据分析软件，可广泛应用于各种科研领域。